最基本的开/关继电器切换功能，通常称为 1-Form A（常开 - NO），可以通过机电继电器 (EMR) 或固态继电器 (SSR) 来满足，但这只是其中的一部分接力故事。对于高速信号，尤其是自动测试设备 (ATE) 中的信号，寄生电容和电感等参数以及相关的插入损耗也至关重要。

　　针对这种情况，东芝电子推出了 TLP3475W 光继电器（通常称为 SSR），可减少插入损耗的影响因素。它针对与半导体测试应用相关的高频信号，例如高速存储器测试仪、高速逻辑测试仪或探针卡（图1）。

　　凭借其优化的封装设计，该光继电器提供高达 20 GHz（典型值）的功能，与现有前代 TLP3475S 光继电器相比，性能提高了 50%，并且与同样紧凑、可靠且支持宽带操作的干簧继电器竞争。

　　最大断态输出端子电压至少为 60 V，而隔离电压 (BV) 超过 300 V rms。输出电容 (C OFF ) 小于 20 pF，导致开关时间在 2 ms 左右。工作温度范围为?40至+110°C，适合工业应用以及高速半导体测试，其中适度的环境温度与高占空比和负载系数相抵消，可能导致内部热量增加（图2）。

　　TLP3475W 采用 WSON4 封装，尺寸仅为 1.45 × 2.0 × 0.8 mm，使其成为目前可用的最小光继电器之一。该尺寸比东芝已经推出的超紧凑 S-VSON4T 封装小 40%。因此，它非常适合密集多通道设计，其中在单张卡上使用多个设备，这通常是 ATE 系统中的情况。